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清华大学提出集成化芯片架构突破光学像差难题

成像芯片的线性度是描述传感器静态特性的重要指标。突破光学像差问题清华大学成功研制元成像芯片门捷列夫曾说:“科学始于测量,从清华大学获悉,近日,我校成像与智能技术实验室提出了集成元成像芯片架构,为解决这一百年难题开辟了新的路径,数码相机中的两个图像传感器CCD和CMOS有什么区别?但是,CCD为了读取整个图像信号,需要输出放大器的信号带宽更宽,而在CMOS芯片中,每个像素中放大器的带宽要求更低,大大降低了芯片的功耗,这也是CMOS芯片功耗低于CCD的主要原因。

1、数码相机中的两种图像传感器CCD和CMOS的区别是什么?

CMOS与CCD的区别:1)在成像过程中,CCD与CMOS图像传感器的光电转换原理是相同的,它们的主要区别在于信号读取过程的不同;由于CCD只有一个(或几个)输出节点统一读数,其信号输出的一致性很好;在CMOS芯片中,每个像素都有自己的信号放大器,对电荷和电压进行转换,因此其信号输出的一致性较差。但是,CCD为了读取整个图像信号,需要输出放大器的信号带宽更宽,而在CMOS芯片中,每个像素中放大器的带宽要求更低,大大降低了芯片的功耗,这也是CMOS芯片功耗低于CCD的主要原因。

2)整合。从制造工艺上看,CCD中的电路和器件都集成在半导体单晶材料上,工艺复杂。世界上只有少数几家制造商能生产CCD芯片,如达尔萨、索尼和松下。CCD只能输出模拟电信号,需要后续的地址解码器、模拟转换器、图像信号处理器进行处理,还需要提供三组不同电压的电源同步时钟控制电路,所以集成度很低。

2、突破光学像差难题清华大学成功研制元成像芯片

门捷列夫曾经说过,“科学始于测量。”光学成像拓展了人类的认知边界,推动了科学的进步,也广泛应用于生活的方方面面。然而,由于不可避免的镜面加工误差、系统设计缺陷和环境干扰,实际成像分辨率和信噪比往往明显低于完美的成像系统。如何实现无像差的完美光学成像一直是光学领域最重要且尚未解决的问题之一。从清华大学获悉,近日,我校成像与智能技术实验室提出了集成元成像芯片架构,为解决这一百年难题开辟了新的路径。

3、成像芯片的线性度是什么

描述传感器静态特性的重要指标。根据百度百科,成像芯片的线性度,又称非线性误差,是描述传感器静态特性的重要指标,线性度是指实际输入/输出特性曲线与理想输入/输出特性曲线(称为拟合直线)的接近程度和偏离程度。在特定条件下,传感器校准曲线和拟合直线之间的最大偏差(δδYmax)和满量程输出的百分比(y)称为线性度,值越小,线性越好。

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